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Publicado el 09/09/2025

IEEE AR APS/EMCS - Webinario "Del PCB al silicio: redefiniendo las fronteras de la compatibilidad electromagnética"
Pablo Gardella - Martes 21.10.2025 - 17:00 a 18:00 AR (UTC-3)

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El Capítulo Conjunto Argentino de las Sociedades IEEE Antennas and Propagation (APS) y Electromagnetic Compatibility (EMCS) invita al webinario "Del PCB al silicio: redefiniendo las fronteras de la compatibilidad electromagnética".
            *Disertante:
             Dr. Ing. Pablo Gardella
             Principal EMC R&D Engineer, Allegro Microsystems
             * Fecha y hora: Martes 21 de octubre de 2025 - 17:00 a 18:00 AR (UTC-3)
             Esta sesión es abierta y gratuita, pero se solicita inscripción previa en
                              https://forms.gle/TZ29bYv5nxCvqZMk7
             Link de acceso a la videoconferencia:
                              https://meet.google.com/scr-hgmd-kie

Resumen:
La compatibilidad electromagnética (CEM) ha sido históricamente abordada a nivel de producto o sistema, con enfoques consolidados en sectores como la industria automotriz, médica, aeronáutica, militar y de consumo. Sin embargo, a medida que las aplicaciones exigen mayor miniaturización, precisión y confiabilidad, el desafío comienza a trasladarse hacia niveles más profundos del diseño electrónico: el circuito integrado (CI).

En esta charla proponemos una mirada técnica y estructurada sobre cómo se evalúa la CEM cuando el dispositivo bajo prueba ya no es una placa de circuito impreso, sino un circuito integrado. Abordaremos las diferencias fundamentales entre la medición a nivel producto y a nivel CI, qué parámetros preocupan realmente a los diseñadores de semiconductores, qué estándares existen (y cuáles aún están en desarrollo), y cómo se configuran los setups de laboratorio para caracterizar emisiones e inmunidad directamente sobre silicio.

Con ejemplos visuales de configuraciones de prueba reales, esta presentación busca resaltar que medir CEM a nivel de circuito integrado no es simplemente una versión reducida de los ensayos tradicionales, sino un cambio de paradigma que abre la puerta a nuevas preguntas, herramientas y oportunidades para la industria y la investigación.